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和记PCB板金属化时导致通孔铜层空虚的种种理由
时间:2020-03-31 18:44 来源:和记国际 点击:

  当导通孔直径越来越小,厚径比越来越高时,要保证孔中的金属覆盖良好变得更加困难。而保证孔中金属的均匀一致性,保护孔中金属在图形电镀及以后的掩膜及蚀刻过程中不被蚀刻掉,也变得极具挑战性。本文列出了导致通孔铜层空洞的许多原因,并对如何识别根本问题加以讨论,对生产工艺提出一些建议以避免这些问题。

  通孔中导电层空洞因不同原因引起,表现出不同特征,但有一点是共同的,即孔中导电层的金属覆盖不充分或没有金属覆盖。从理论上讲,该问题由两种情况引起:沉积的金属不足,或在充分足量的金属沉积后,又因某种原因,失掉部分金属。不充分的金属沉积可能是由于电镀参数不当引起,如槽液的化学组成,阴极移动,电流,电流密度分布,或电镀时间等等。这也可能是因为孔壁表面有异物妨碍金属沉积造成,如气泡,灰尘,棉质纤维或有机膜,粘污等。若孔壁表面未经适当处理,不利于镀液沉积,也有可能导致金属沉积不好,例如:钻孔粗糙,形成裂纹,或有“粉红圈”。从通孔中将铜“吃掉”有可能是化学因素,如蚀刻造成,也可能是机构原因,如胀孔(blow-holing),裂纹或沉积层脱落。

  本文按照导通孔金属化工艺步骤顺序研究在何处可能出现问题,并导致孔中空洞的步骤来分析这些缺陷和原因。并借鉴经典的问题分析解决的有用因素,如识别空洞形状,位置等,并指出更正问题的方法。

  磨损的钻头或其它不恰当钻孔参数都可能撕裂铜箔与介电层,形成裂缝。玻璃纤维也可能是被撕裂而非切断。铜箔是否会从树脂上撕裂,不仅仅取决于钻孔的质量,也取决于铜箔与树脂的粘结强度。典型的例子是:多层板中氧化层与半固化片的结合往往较介电基材与铜箔的结合力更弱,故多数撕裂都发生在多层板氧化层表面。在金板中,撕裂都发生在铜箔较为光滑的一面,除非采用”反转处理的铜箔“(revers treated foil)。氧化面与半固化片不牢固结合,还可能导致更糟的“粉红圈”,即铜的氧化层在酸中溶解。钻孔孔壁粗糙或孔壁粗糙且有粉红圈都会导致多层结合处的空洞,称之为楔形空洞(wedge woids)或吹气孔(blow holes),“楔形空洞”最初处于结合交界面,它的名称也暗示:形状如“楔”,回缩形成空洞,通常可以被电镀层覆盖。若铜层覆盖这些沟,铜层后面常常会有水分,在以后的工序中,如热风整平等高温处理,水分(湿气)蒸发和楔形空洞通常一起出现。根据出现的位置与形状,很容易确认并与其它类型的空洞区分开。

  去沾污步骤是用化学方法去掉内层铜上的树脂腻污。这种腻污最初是由钻孔造成的。凹蚀是去沾污的进一步深化,即将去掉更多的树脂,使铜从树脂中“突出”,与镀铜层形成“三点结合”或“三面结合”,提高互联可靠性。高锰酸盐用于氧化树脂,并“蚀刻”之。首先需要将树脂溶胀,以便于高锰酸盐处理,中和步骤可以去掉锰酸盐残渣,玻璃纤维蚀刻采用不同的化学方法,通常是氢氟酸。若去沾污不当,可造成两种类型的空洞:在孔壁粗糙的树脂粘污可能藏有液体,可导致“吹气孔”。在内层铜上残留的粘污会防碍铜/镀铜层的良好结合,导致“孔壁拉脱”(hole wall pullaway)等,如在高温处理中,或相关的测试中,镀铜层与孔壁分离。树脂分离可能导致孔壁拉脱和裂纹以及镀铜层上的空洞。若在中和步骤中(准确讲5,当是还原反应中)锰酸钾盐残渣未完全去掉,也可能导致空洞,还原反应常常用到还原剂,如肼或羟胺等。

  去沾污/凹蚀/化学沉铜之间的不匹配和各独立步骤不够优化,也是值得考虑的问题。那些研究过孔中空洞的人员都极力赞同化学处理的统一的整体性。传统的沉铜前处理顺序为清洁,调整,活化(催化〕,加速(后活化〕,并进入清(淋)洗,预浸,完全适于Murpiy原理。例如,调整剂,一种阳离子聚酯电解质用于中和玻璃纤维上的负电荷,往往须正确应用才能得到所需的正电荷:调整剂太少,活化层及附着不好;调整剂太多,会形成一层膜导致沉铜附着不好;以致孔壁拉脱。调整剂覆盖不充分,最容易在玻璃头上出现。在金相中,空洞开口表现在玻璃纤维处铜覆盖不好,或没有铜。其它引起在玻璃处出现空洞的原因有:玻璃蚀刻不充分,树脂蚀刻过分,玻璃蚀刻过分,催化不充分,或沉铜槽活性不好。其他影响Pd活化层在孔壁上覆盖的因素有:活化温度,活化时间,浓度等。若空洞在树脂上,可能有以下原因:去沾污步骤的锰酸盐残渣,等离子体残留物,调整或活化不充分,沉铜槽活性不高。

  在查看孔中空洞时,总看化学槽液是否有问题,同样再看看,化学沉铜前处理槽液,还要覆盖到化学铜,电镀铜,铅/锡槽共同问题。总的来讲,我们可以了解气泡,固态物(尘,棉)或有机物粘污,干膜可能阻碍镀液或活化液沉积。气泡褒入,有外来的和内在产生的气泡。外来气泡有时可能是板子进入槽中,或振荡摇摆时进入通孔中。而固有气泡是由化学沉铜液中附反应产生氢气引起,或电镀液中阴极产生氢气或阳极产生氧气。气泡引起的空洞有其特征:常常位于孔中央,而且在金相中对称分布,即对面孔壁有同样宽度范围内无铜。在孔壁表面镀上若有气泡,表现为小坑,空洞周围呈穗状。由尘埃,棉质品或油状膜引起的空洞,形状极不规则。有些防碍电镀或活化沉积的微粒还会被镀层金属包裹。非有机微粒可用EDX分析出,有机物可用FTIR检查。

  有关避免气泡裹入的研究已有相当的深度。其中有许多影响因素:阴极移动摇摆幅度,板间间隔,振动摆动等。最有效的避免气泡进入孔中的方法为振动和碰撞。增加板面间隔,增加阴极移动距离也十分重要,化学沉铜槽中空气搅拌和活化槽撞击或振动几乎没有用。另外,增加化学沉铜湿润性,前处理潮位避免气泡也十分重要。镀液的表面能量于氢气气泡在跑出孔中或破灭前的尺寸有关,显然希望气泡在变大前排除于孔外,以免阻碍溶液交换。

  孔口或孔边空洞(Rim voids),即空洞位于离板面较近的位置,它常常由位于孔中的抗蚀剂引起,大约50-70微米宽离板面50-70 微米,边缘空洞可能位于板一面或两面,可能造成完全或部分开路。而由化学铜,电镀铜,镀铅/锡引起的空洞多位于孔中央。桶形裂纹(Barrel cracks)造成的空洞,也与干膜造成的空洞物理特征不同。

  孔口或孔边空洞是由于抗蚀剂进入孔内,显影时未去掉,它阻碍铜,锡,焊料电镀,抗蚀剂在去膜时去掉,化学铜被蚀刻掉。一般显影后很难发现孔内的抗蚀剂,空洞所在的位置和缺陷宽度是判断孔口和孔边空洞的主要依据。抗蚀剂为何流入孔中?被抗蚀剂覆盖的孔中气压比大气压低20%,贴膜时孔中空气热,空气冷到室温时气压降低。气压导致抗蚀剂慢慢流入孔中,直至显影。

  水汽停在孔中的主要原因,水分可以降低抗蚀剂粘度,使其较快流入孔中。高厚径比小孔较易发生空洞问题,这是由于这种孔较难干燥。小孔中的抗蚀也较难显影。显影前时间较长也使更多的抗蚀剂流入孔中。表面处理与自动贴膜连线,更易发生问题。

  避免孔口或孔边空洞最佳及简单的办法是在表面处理后增加烘干的程度。孔若干。


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